赤外線非破壊検査(探傷)の加熱用熱源(表面のみ加熱により、温度変化の明瞭化)

試料の表面をフラッシュランプで加熱し、その表面の温度変化をサーモグラフィで観察します。試料内部にひび割れなどの欠陥があると、その部分の熱の伝わり方が悪くなり、結果として表面温度にムラができるため、サーモグラフィの画像で欠陥を発見できます。熱源としては試料の表面のみを一瞬にして加熱する必要があるため、フラッシュランプが使われています。

使用機器

金属ナノインクフラッシュ焼結装置
薄膜シリコン熱処理用・UV硬化樹脂用フラッシュ装置

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